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高溫法向光譜發(fā)射率測量裝置:超高溫黑體+傅里葉光譜儀(FTIR)
法向光譜發(fā)射率作為材料熱輻射特性的重要參數(shù),在優(yōu)化高溫材料的熱處理工藝和提高能量利用效率方面發(fā)揮著重要作用。然而,目前大多數(shù)研究中測量溫度相對較低或范圍較窄,且主要集中于穩(wěn)態(tài)溫度測量,使得航空和工業(yè)領(lǐng)域?qū)挏囟确秶鷥?nèi)光譜發(fā)射率研究的需求難以滿足。為解決這一難題,一種寬溫度范圍的法向光譜發(fā)射率快速測量裝置被提出。該裝置采用超高頻電磁感應(yīng)加熱器對樣品進(jìn)行動態(tài)加熱,并結(jié)合可調(diào)節(jié)檢測區(qū)域的光學(xué)系統(tǒng),以光纖光譜儀快速響應(yīng)的特性,迅速測量所需溫度范圍內(nèi)的輻射信號。一、加熱系統(tǒng)加熱系統(tǒng)由以...
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紅外熱像儀NETD(熱靈敏度) 是什么?測試方式及測試系統(tǒng)
熱靈敏度(NETD)代表噪聲等效溫差,這是評估中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)紅外熱像儀的關(guān)鍵參數(shù)。該值表示溫差的信噪比,相當(dāng)于成像相機的瞬時噪聲。因此,它大約代表紅外熱像儀可以分辨的最小溫差,這與其測量的清晰度直接相關(guān)。當(dāng)選擇具有相同像素配置且在固定測溫尺度下的傳感器時,使用具有不同熱敏度的儀器拍照,結(jié)果如下:在不同的熱敏感度下,呈現(xiàn)的圖片差異很大。感光度值越小,熱敏度越好,畫面越清晰。NETD的測量(1)兩點法兩點法是測量紅外成像相機NETD的常用方法。它基于兩...
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IMPAC比色高溫計(雙色紅外測溫儀)工作原理
在許多應(yīng)用情況下,標(biāo)準(zhǔn)的單色測溫儀無法讀取正確的溫度,這些情況包括:目標(biāo)尺寸小(尺寸太小,無法填滿整個視野)。灰塵、煙霧或蒸汽遮擋了視線。視窗變得臟污并且難以保持清潔。產(chǎn)品的輻射率發(fā)生變化(合金或表面狀況發(fā)生變化)。雙色或比色高溫計(Endurance系列)即使在這些問題存在的情況下也能正常工作并指示出正確的溫度。雙色高溫計和單色高溫計有什么不同?雙色高溫計由兩個單色高溫計組成,使用兩個探測器,在兩種不同的波長下工作,但兩個探測器探測同一個高溫目標(biāo)。通過并列結(jié)構(gòu)使用兩個探測器...
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M390超高溫黑體爐助力核火箭發(fā)動機試驗用超高溫模擬環(huán)境
實驗概述本實驗的主要目的是模擬核熱火箭發(fā)動機環(huán)境下的高溫氫氣流條件,以研究和評估高溫材料在此環(huán)境中的表現(xiàn)。實驗通過使用弧加熱器產(chǎn)生高溫氫氣流,將材料暴露于類似核反應(yīng)堆核心環(huán)境中的熱氫氣流中。測試的核心是評估材料在高溫條件下的耐久性、腐蝕性以及其他性能,以篩選出適用于核熱推進(jìn)系統(tǒng)的材料。在這個實驗中,M390黑體爐和IS140光學(xué)高溫計扮演著至關(guān)重要的角色,它們保證了實驗過程中溫度測量的準(zhǔn)確性和可靠性,從而確保材料的性能評估結(jié)果是科學(xué)和可靠的。M390黑體爐在實驗中的作用M39...
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?ORI熱像儀鏡頭測試系統(tǒng):MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))畸變、視差、色差等
隨著紅外成像技術(shù)的迅猛發(fā)展,熱像儀已廣泛應(yīng)用于軍事、安防、醫(yī)學(xué)等多個領(lǐng)域。高性能的熱像儀鏡頭是確保圖像質(zhì)量的關(guān)鍵組成部分,因此,熱像儀制造廠商和鏡頭研發(fā)科研人員迫切需要一款能夠精確、快速評估鏡頭性能的測試系統(tǒng)。ORI熱像儀鏡頭測試系統(tǒng)應(yīng)運而生,成為滿足這一需求的理想解決方案。高效的測試平臺:適用于紅外熱像儀鏡頭ORI熱像儀鏡頭測試系統(tǒng)是一款模塊化的通用光學(xué)測試站,能夠測試包括中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)在內(nèi)的各種紅外光學(xué)鏡頭。其設(shè)計和先進(jìn)的測試方法使得ORI系統(tǒng)...
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基于傅里葉紅外光譜儀的光譜發(fā)射率測量裝置
光譜發(fā)射率的測量在材料特性研究中扮演著至關(guān)重要的角色,尤其在需要精確熱管理和材料表征的領(lǐng)域中尤為重要。光譜發(fā)射率量化了材料在相同溫度下與黑體相比的輻射效率。本文介紹了基于傅里葉紅外光譜儀(FT-IR)測量系統(tǒng)的光譜發(fā)射率測量技術(shù),并探討了其設(shè)計原理、系統(tǒng)組成及應(yīng)用。1.光譜發(fā)射率概述光譜發(fā)射率是指某材料在給定溫度下單位面積內(nèi)的輻射功率與黑體輻射功率的比值。與總發(fā)射率不同,光譜發(fā)射率是波長相關(guān)的,它能提供更細(xì)致的材料輻射信息。精確的光譜發(fā)射率測量在材料科學(xué)、熱管理和節(jié)能等多個領(lǐng)...
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固定式高速攝像機:從安裝到調(diào)試的完整操作指南
固定式高速攝像機廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)檢測及運動分析等領(lǐng)域,其精準(zhǔn)的圖像捕捉能力依賴于正確的安裝與調(diào)試。以下為從安裝到調(diào)試的完整操作指南。一、安裝前準(zhǔn)備設(shè)備檢查確認(rèn)攝像機、鏡頭、電源線、數(shù)據(jù)線等配件齊全,檢查外觀無損壞。閱讀產(chǎn)品說明書,了解設(shè)備參數(shù)(如最大幀率、分辨率)及接口類型。環(huán)境評估選擇無強電磁干擾、光線穩(wěn)定的環(huán)境,避免逆光或強光直射鏡頭。確保安裝位置穩(wěn)固,能承受設(shè)備重量及振動。工具準(zhǔn)備準(zhǔn)備螺絲刀、扳手、水平儀、絕緣膠帶等工具,以及用于接地的線纜。二、安裝步驟固定支架根據(jù)...
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?紅外熱像儀成像質(zhì)量評價系統(tǒng):MRTD、NETD熱像儀測試系統(tǒng)
紅外熱像儀的成像質(zhì)量評價是一個復(fù)雜的過程,涉及多個測試方法和參數(shù)。主要的評價指標(biāo)包括:1.熱靈敏度(NETD,NoiseEquivalentTemperatureDifference):描述儀器檢測最小溫差的能力。以毫克爾文(mK)計量,數(shù)值越小,靈敏度越高,成像質(zhì)量越好。2.最小可辨溫差(MRTD,MinimumResolvableTemperatureDifference):是衡量紅外熱像儀性能的重要參數(shù)之一,它表示儀器能分辨出的最小溫度差異。具體來說是指在一定的觀察距離...
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熱像儀MRTD(最小可分辨溫差)測試及熱像儀MRTD測試系統(tǒng)
MRTD(最小可分辨溫差)是一個主觀參數(shù)(函數(shù)),描述了成像儀-人類系統(tǒng)在不同對比度和不同尺寸的參考目標(biāo)下,分辨目標(biāo)細(xì)節(jié)的能力。具體來說,它是一個函數(shù),表示分辨標(biāo)準(zhǔn)4條條紋目標(biāo)(條紋的長寬比為7)與背景之間的最小溫差,在不同空間頻率下觀察者仍然能夠分辨出條紋的溫差??臻g頻率被理解為4條條紋目標(biāo)中一對條紋的反向角度大小。MRTD通常通過人工分析圖像中的4條條紋目標(biāo)來測量,該目標(biāo)具有可變的溫差(圖43-44)。觀察者的任務(wù)通常是找到一個最小的溫差值,使得他在仍能分辨出條紋的情況下...
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impac測溫儀有效的維護(hù)保養(yǎng)建議
impac測溫儀是一款利用紅外輻射原理進(jìn)行非接觸式測溫的儀器,廣泛應(yīng)用于工業(yè)、醫(yī)療、科研等領(lǐng)域。它通過光學(xué)系統(tǒng)匯聚目標(biāo)物體的紅外輻射能量,聚焦在光電探測器上并轉(zhuǎn)化為電信號,再經(jīng)信號處理后顯示為溫度值。為了確保impac測溫儀測量準(zhǔn)確性和延長使用壽命,定期進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)是不可少的。以下是一些有效的維護(hù)保養(yǎng)建議:一、清潔1、外部清潔:使用干凈柔軟的布或棉簽蘸取適量的酒精輕輕擦拭設(shè)備外殼及顯示屏,去除灰塵和污漬。注意不要讓液體滲入內(nèi)部。2、鏡頭清潔:核心部件之一是其光學(xué)鏡頭。應(yīng)使用專...
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晶體生長爐溫度測量技術(shù)及應(yīng)用:IMPAC紅外測溫儀
非接觸式紅外線測溫儀在晶體生長領(lǐng)域中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文詳細(xì)介紹了上海明策電子提供的Impac紅外測溫儀,尤其是ImpacIGA6/23和Impac600系列的技術(shù)特點及應(yīng)用實例。測溫儀結(jié)合輻射屏蔽技術(shù),有效提高了晶體生長爐內(nèi)發(fā)射率及溫度測量的準(zhǔn)確性。引言晶體材料的生產(chǎn)過程通常涉及高溫環(huán)境,輻射傳熱占據(jù)主導(dǎo)地位,準(zhǔn)確測量表面溫度是實現(xiàn)高質(zhì)量晶體生長的重要基礎(chǔ)。Impac系列測溫儀因其非接觸測量特性和高精度測量結(jié)果,廣泛應(yīng)用于晶體生長爐內(nèi)各類溫度監(jiān)控任務(wù)。測溫儀原理及技術(shù)特點I...
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D&S太陽光譜反射儀 SSR-ER:符合ASTM C1549-04、E891-87 等標(biāo)準(zhǔn)
在太陽能材料、節(jié)能建筑、光學(xué)涂層和航空航天等高精尖領(lǐng)域,對材料在不同太陽輻照條件下的反射特性有著嚴(yán)格的測量需求。D&S太陽光譜反射儀SSR-ER:符合ASTMC1549-04、E891-87等標(biāo)準(zhǔn),正是為滿足這一需求而打造的一款高精度、多功能光譜測量設(shè)備。設(shè)備概述SSR-ERv6采用可選擇的太陽光譜測量模式,精確模擬多種全球與直射太陽輻照度模型,適用于各種漫反射與鏡面材料,包括厚度達(dá)6.4毫米的二次反射面。其測量分辨率達(dá)0.001單位,重復(fù)性優(yōu)于0.003單位,為太陽反射率與...
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